凯力迪推出定制型高性能CPU测试架，价格实惠，满足多样化需求
凯力迪定制型CPU测试架/CPU测试治具/CPU测试夹具，专为满足客户对高性能、高精度测试的需求而设计。该产品适用于在客户原有的PCBA产品上验证测试BGA544封装的CPU性能，具备翻盖旋钮式结构和双头测试探针，工作频率高达1.2Ghz。
产品特点：
1.定制化设计：根据客户需求定制，确保与现有产品完美兼容。
2.高性能测试：翻盖式旋钮结构确保压力均匀，下压平稳，接触稳定，测试结果可靠。
3.高精度定位：高精度定位槽确保IC定位精确，提升测试准确性。
4.多功能测试：采用浮板结构，无论有球无球均能进行测试，适用性广泛。
5.易于维护：测试探针可更换，维修方便，降低维护成本。
6.优质材料：采用KEEP+陶瓷工程绝缘材料制作，确保产品耐用性和稳定性。
7.精细工艺：最小可做到跳距pitch=0.35mm，满足高密度引脚测试需求。
8. 价格实惠：凯力迪致力于为客户提供高性价比的解决方案，确保在保证高性能的同时，价格具有竞争力。
我们欢迎相关行业的客户联系凯力迪，来厂参观和交流，了解更多关于我们定制型CPU测试架的详细信息。凯力迪期待与您合作，共同推动行业技术进步。
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关于凯力迪
深圳市凯力迪科技有限公司成立于2013年，是一家专注于半导体测试解决方案的高科技企业。我们致力于为客户提供从芯片设计验证、第三方可靠性测试到ATE量产测试的全流程测试解决方案，助力客户加速产品上市，提升市场竞争力。
核心优势
经验丰富的技术团队： 我们拥有一支超过15年经验的工程技术团队，具备专业的电子电路开发、软件开发、机械3D设计及系统集成能力，可为客户提供专业的技术支持和定制化服务。
持续的技术创新： 我们始终致力于技术创新和产品升级，不断推出满足市场需求的先进测试解决方案。
高品质的产品和服务： 我们坚持严格的质量控制体系，确保产品的高可靠性和稳定性，为客户提供专业、高效的芯片测试解决方案。
主要产品与服务：
1)CPU/GPU/FPGA大芯片/车规芯片老化测试座： 针对不同封装类型和测试需求，提供高性能、高可靠性的老化测试座，满足HTOL老化测试和ATE量产测试的严苛要求。
2)RF 射频测试方案： 提供全面的射频测试解决方案，涵盖从研发到量产的各个环节，助力客户提升射频芯片的性能和可靠性。
3) 定制ATE测试座/测试治具： 根据客户具体需求提供定制化测试座和测试治具设计服务，满足客户个性化测试需求。
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