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凯力迪为客户 定制生产 全系列 ATE/SLT测试插座 ,

20 2025-03-09 凯力迪|创“芯”测试方案|ATE测试座
领域广 航天级芯片、车规级芯片、工业级芯片、消费电子芯片 封装形式全:QFN/DFN/QFP/CSP/BGA/PGA/LGA/SiP/MCP/MCM/SOP...... 芯片尺寸 0.5X0.6mm/1X1mm/4X4mm/5X5mm/6X6mm/20X20mm...... 间距Pitch: Min 0.3mm/0.35mm/0.4mm/0.5mm.....

凯力迪为客户 定制生产 全系列 ATE/SLT测试插座 ,
广泛应用国内封测厂家,如通富、长电、华天、甬矽、晶方科技、颀中科技、伟测、利扬芯片等的ATE测试机台爱德万、泰瑞达、四方、辰卓、悦芯、芯业测控等。

 

灵活定制 多台高精密加工设备
超级稳定 精湛的工程技术&完善的品质流程
超长寿命 优选探针和工程材料
不易粘锡 创新技术解决行业痛点
探针更换方便 RF高频创新结构
综合成本优势 测试座/探针更换/清洁维护/专业服务

 测试寿命life span:300k~1000k~ cycles
 阻抗DC Resistance: ≦0.05ohm
 自感Self inductance: 1.1nH
 测试应用:FT/SLT

 电流: Max 3A
频宽:> 20GHZ @-1db
 测试温度:-45°~+125°
测试夹具结构:下压式/翻盖(手自一体),自动化机台ATE测试用
芯片测试座材料:Ceramic PEEK/Torlon5530/EKH11/ESD PEEK/SCP5000

领域广 航天级芯片、车规级芯片、工业级芯片、消费电子芯片
 封装形式全:QFN/DFN/QFP/CSP/BGA/PGA/LGA/SiP/MCP/MCM/SOP......
芯片尺寸 0.5X0.6mm/1X1mm/4X4mm/5X5mm/6X6mm/20X20mm......
 间距Pitch: Min 0.3mm/0.35mm/0.4mm/0.5mm......

 

 

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