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品名：BGA316 老式NAND Flash测试座
封装尺寸：BGA316
产品特色：根据NAND flash芯片测试的详细情况，对必要留下的184Pin下探针，在保证测试顺利的前提下，选择最优的性价比的下针情况，单测试能力在600Mhz频率能力，方便芯片的高速IOPS的情况下完成测试。
产品用途：NAND Flash测试，功能验证，老化测试等
